CMT 200
智能卡模块检测
CMT 200是用于智能卡模块计数和测试的开放平台式设备。设备占地面积小，内置卷轴可用于卷到卷的条带输入质量检测。卡片制造商可利用4头接触
式测试头对智能卡模块的质量进行物理和电气的测试，同时可另外选配6头接触式测试头对非接式智能卡模块进行检测。问题模块将被打孔标记。
主要特点
- 在35和super 35mm的条带上的接触式和非接触式IC模块自动检测系统
- 容易操作的电气和气动单元
- 模块条带和隔离带自动绕卷系统
- SPS 驱动操作系统
- 程序的全自动测试流程
- 接触式和非接触式测试系统
- 接入MCES/INCAPE 系统
生产处理模块
- 集成模块条带和隔离带的绕卷系统
- 用于不同IC模块应用的的灵活测试方案
- 用于9.5和14.25mm间距的接触式IC模块的4个测试头
- 用于9.5mm间距非接触式IC模块的6个测试头
- 可用率: 高达95%
- 良品率: 高达99.7%
- 环境条件: 室温: 23°C; +/-3°C; 湿度: 50%; +/-10%
技术参数
- 模块条带: 35mm/super 35mm
- 卷轴最大直径：500mm
- 模块间距: 9.5; 14.25 mm
- 隔离带: 35mm
- 典型测试时间/ ATR (ATS) 测试: 约1.0秒
- 产能:接触式智能卡模块最高每小时11,000， 非接触式智能卡模块最高每小时16,000，基于1.0秒ATR (ATS )测试
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